Fázová, mikroštruktúrna a chemická analýza

Skenovací elektrónový mikroskop JEOL EVO® 40 Series (Bratislava)


Zodpovedný pracovník
: Anna Jurová e-mail: anna.jurova@savba.sk

  • Prístroj na detailnú mikroštruktúrnu a chemickú analýzu (EDS) materiálov,
  • rozlíšenie 3.0 nm pri 30 kV; urýchľovacie napätie 0.2 to 30 kV.

 

 

 

 

Skenovací elektrónový mikroskop JEOL JSM-7600 F/EDS/WDS/EBSD (Trenčín)


Chemická a mikroštruktúrna analýza keramických kompozitov, identifikácia distribúcie sekundárnych fáz v kompozitoch, identifikácia a charakterizácia korodovaných povrchov a koróznych produktov skla a keramických materiálov, analýza nehomogenít v skle, charakterizáciu produktov kryštalizácie pri štúdiu mechanizmov kryštalizácie skiel.

  • Rozlíšenie pri urýchľovacom napätí 15kV min. 1-2nm, pri 1kV min.2-4nm, vybavený analytickými modulmi 1xWDS detektorom, 1xSDD detektorom, 1xEBSD detektorom, vrátane databázového softwaru na vyhodnocovanie EBSD spektier.

Iónová naprašovačka – JEOL JFC-1300 „AUTO Sputter Coater“, JEOL JEC-520 „Carbon Coater“, Trenčín

Zariadenie slúži na pokovovanie elektricky nevodivých vzoriek pre elektrónovú mikroskopiu s možnosťou nanášania kovových (Au, Pt, Au/Pd) alebo uhlíkových povlakov pre EDX analýzu. Umožňuje úpravu povrchu nevodivých materiálov naprašovaním vrstiev zlata, striebra, platiny, ich zliatiny, zliatiny zlata a paládia, uhlíka zo zdroja vybudením plazmou.

 

Röntgenový práškový difraktometer Panalytical Empyrean

Zodpovedný pracovník:

Trenčín: doc. Ing. Dušan Galusek, PhD.e-mail: dusan.galusek@tnuni.sk (Trenčín)

Bratislava: Ing. Iveta Macková e-mail: iveta.mackova@savba.sk (Bratislava)

  • kvalitatívna a semikvantitatívna analýza fázového zloženia materiálov, vrátane vstupných surovín pre prípravu skiel a keramiky, fázového zloženia keramických materiálov a kompozitov
  • prídavné zariadenia: vysokoteplotná cela (do 1600°C)
  • humiditná a kryocela pre prácu v rozsahu od -170 do 600 °C a pri relatívnej vlhkosti od 0 do 95 % v teplotnom rozsahu od 25 do 100 °C (Trenčín)

 

 

C/S  analyzátor EMIA-320 V2 AC HORIBA Jobin Yvon
O/N/H analyzátor EMGA 830 AC HORIBA Jobin Yvon

Zodpovedný pracovník: Mgr. Roman Bystrický e-mail: roman.bystricky@savba.sk

  • Stanovenie obsahu prvkov v železných aj v neželezných zliatinách, v keramických a aj ďalších materiáloch, vrátane organických,
  • Je vhodný pre vedecko-výskumné účely ako aj pre priemyselné použitie pri kontrole kvality rozličných materiálov (ocelí, palív, keramických materiálov, katalyzátorov atď.),
  • kvalitatívna (identifikácie funkčných skupín) a semikvantitatívna analýza.